Исследование заключается:
Для выполнения первой части задания уберите оба поляроида, введите
в оптическую схему микроскопа конденсор и максимально
задиафрагмируйте осветитель. Получите в центре поля зрения
микроскопа изображение круглого отверстия диафрагмы. Поместите на
столик микроскопа кристалл исландского шпата
, сфокусируйте
микроскоп и пронаблюдайте появление двух изображений отверстия
диафрагмы. Одно из них принадлежит обыкновенному лучу, другoe --
необыкновенному (рис.11). Вращая столик с кристаллом,
выясните, какой луч обыкновенный и какой необыкновенный
(рис.4). Данные опыта зарисуйте.
Для выяснения поляризованности этих лучей в качестве анализатора
используйте верхний поляроид. Вращая столик с кристаллом,
пронаблюдайте изменение интенсивности лучей и определите в них
плоскости колебаний вектора , зная плоскость пропускания
верхнего поляроида.
Для определения положения плоскостей колебаний вектора в
обыкновенном и необыкновенном лучах определите только те углы, при
которых получаются минимумы интенсивности (максимумы -- не
нужно). В этих положениях плоскость пропускания анализатора и
плоскость колебаний вектора
соответствующего луча будут
скрещены.
Сделайте не менее трех полных оборотов столика и значения углов занесите в таблицу4.
Вычислите среднюю квадратичную ошибку и результат запишите в виде:
Пользуясь полученными данными и данными задания 2,
вычислите положена» плоскостей колебания вектора в
- и
-лучах по формуле
Плоскость колебаний вектора соответствующего луча
пройдет через точку, соответствующую углу
на лимбе, и
оптическую ось микроскопа.
Сравните полученные экспериментальные данные с теоретическими.
Сделайте в изометрии рисунок, где покажите положение плоскостей
колебаний вектора относительно кристалла исландского
шпата.