Исследование заключается:
Для выполнения первой части задания уберите оба поляроида, введите в оптическую схему микроскопа конденсор и максимально задиафрагмируйте осветитель. Получите в центре поля зрения микроскопа изображение круглого отверстия диафрагмы. Поместите на столик микроскопа кристалл исландского шпата , сфокусируйте микроскоп и пронаблюдайте появление двух изображений отверстия диафрагмы. Одно из них принадлежит обыкновенному лучу, другoe -- необыкновенному (рис.11). Вращая столик с кристаллом, выясните, какой луч обыкновенный и какой необыкновенный (рис.4). Данные опыта зарисуйте.
Для выяснения поляризованности этих лучей в качестве анализатора используйте верхний поляроид. Вращая столик с кристаллом, пронаблюдайте изменение интенсивности лучей и определите в них плоскости колебаний вектора , зная плоскость пропускания верхнего поляроида.
Для определения положения плоскостей колебаний вектора в обыкновенном и необыкновенном лучах определите только те углы, при которых получаются минимумы интенсивности (максимумы -- не нужно). В этих положениях плоскость пропускания анализатора и плоскость колебаний вектора соответствующего луча будут скрещены.
Сделайте не менее трех полных оборотов столика и значения углов занесите в таблицу4.
Вычислите среднюю квадратичную ошибку и результат запишите в виде:
Пользуясь полученными данными и данными задания 2, вычислите положена» плоскостей колебания вектора в - и -лучах по формуле
Плоскость колебаний вектора соответствующего луча пройдет через точку, соответствующую углу на лимбе, и оптическую ось микроскопа.
Сравните полученные экспериментальные данные с теоретическими. Сделайте в изометрии рисунок, где покажите положение плоскостей колебаний вектора относительно кристалла исландского шпата.